電化學材料測試系統 / Solartron Analytical Materials Lab XM - Materials Test System
Apps-XM Series|Materials Lab XM
- Materials Lab XM是Solartron專用於材料研究的測試系統，提供一個完全整合的參考級時域/AC測量平台，在不同的測量方法之間不必切換樣本的連接。
- 時域測量包括I-V（電流電壓）特性及快速脈衝法；AC測試法包括：從單一正弦分析、多重正弦/快速傅利葉轉換（以得到更快速的低頻分析）到測試材料線性與崩潰的諧波及互相調變所需要的全部功能。
- 特點包括：最高精度的DC（IV、快速脈衝）及EIS（C-V、阻抗、Mott-Schottky曲線）、可立即切換DC與EIS，不必改變樣本連接…等。
阻抗|增益-相位分析儀 / Solartron Analytical 1260A Impedance|Gain|Phase Analyzer
1260A
- 1260A阻抗/增益-相位分析儀無疑是目前市面上功能最強大、最精準且最靈活的阻抗分析儀！
- 由一流研究人員日常使用於將測量完整性與實驗可靠性視為首要之處 - 1260A紮實的聲譽，在下列應用領域的研究報告中經常獲得推崇，例如：腐蝕研究、電池研究與燃料電池、太陽能電池、LCD、生物材料、陶瓷/複合材料、電子元件開發、土木工程等。
- 高頻範圍：跨度10μHz～32MHz，解析度0.015ppm，1260A實際上以單一的一台儀器，便涵蓋了所有化學及分子機制的範圍！
- 無懈可擊的精度：精度0.1%，0.1°，可以有具足的信心進行測量，甚至可以檢測及量化樣本反應中最細微的變化。
- 無雜訊的分析：1260A採用Solartron專利的單一正弦相關測試法，從根本上去除困擾著較小儀器的雜訊及諧波失真。
介電質介面材料|溫度測試系統 / Solartron Analytical Dielectric Interface System
1296A
- Solartron 1296A介電材料測試系統，可於頻率範圍10μHz～10MHz提供快速精準及可重複的阻抗測量，適用於廣泛的材料特性測試，包括聚合物、陶瓷、離子導體、介電質、壓電/鐵電材料、顯示材料…等。
- 1296A搭配Solartron知名的1260A或1255A頻率響應分析儀，可執行以下測量：
- 阻抗測量：超過100TΩ (1014Ω)。
- 精準的Tan δ測量：降至＜10-4。
- AC信號及DC偏壓電壓達到10,000V（搭配外部電源供應器或放大器），適於介電崩潰與線性研究。
液態氦|液態氮低溫恆溫系統 / Solartron Analytical LHe/LN2 Cryostat System
129610A
- 可依需要的操作溫度範圍，切換使用液態氮（78K～600K）或液態氦（5K～600K）作為致冷劑，提供一個合乎經濟的解決方案。
- 可測試廣泛的各種材料，包括固體、凝膠、油、粉末、漿糊…等。
- 高/低阻抗材料，可依選擇的儀器進行分析；具備寬廣的頻率及阻抗測量範圍。
- 可搭配Solartron任一款材料測試系統使用，以進行I-V、脈衝、C-V、阻抗、Mott-Schottky及其它廣泛的材料測試法，完全與溫度控制整合。
- 應用：先進聚合物材料的開發、藥物應用（包括藥物輸送及冷凍乾燥）、半導體材料、複合材料及塗層…等。
高溫材料測試爐|樣本座 / Solartron Analytical High Temperature Test System
129620 A|129621 A/B/C
- Solartron - 精密阻抗測試設備設計專家，與高溫爐專業廠家Carbolite及樣本座專業廠家NorECS攜手協力，合作生產一系列先進的高溫材料特性測試系統。
- 結合129620A高溫爐及129621A/B/C樣本座，可構成高性能的溫度控制系統，並可搭配Solartron各型材料測試系統，進行I-V、脈衝、C-V、阻抗、Mott-Schottky及其它廣泛的材料測試法。
- 寬廣的頻率範圍從µHz～＞MHz；寬廣的阻抗測量範圍 ～＞TΩ。
- 應用：固態、固體氧化物、超離子、電子陶瓷材料的開發；儲能應用包括SOFC固態氧化物燃料電池及固態電池；航空航天/汽車應用...等。
室溫樣本座|電極組 / Solartron Analytical Room Temperature Sample Holders/electrode kit
12962 A|12963 A|12964 A
- 12962A固體材料樣本座：可在室溫下對固體材料執行精準的阻抗測試。
- 12963A電極組（需搭配12962A樣本座）：為12962A樣本座的輔助電極組，可用於進行不同尺寸材料的測量。
- 12964A液體/粉末材料樣本座（需搭配12962A樣本座）：也是採用保護環技術，外形為一個容器，能測量液體或粉末的小型樣本。
模組式電化學材料測試系統 / Solartron Analytical ModuLab XM MTS - Materials Test System
ModuLab XM Series|ModuLab XM MTS
- ModuLab® XM MTS是Solartron最新一代專用於材料測試研究的系統，其設計兼具模組性與靈活性，適用於廣泛的各種應用。
- ModuLab XM的特點包括：領先市場的阻抗分析、最寬廣可用的電壓及電流範圍、單一系統即可進行時域及阻抗分析。
- ModuLab XM提供的測量技術包括：I-V(電壓掃描及電流測量 - 用於測試電子及介電材料的特性)、P-E(極化/電場 - 用於運行磁滯測試，以表現鐵電材料的特性)、高速脈衝(用於激活電子與介電材料中的電荷載體)、階梯平滑的類比斜波波形…等。
