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模組式電化學材料測試系統
Solartron Analytical ModuLab XM MTS - Materials Test System

【Solartron Analytical】電化學阻抗分析儀 介電|絶緣|電子材料研究應用 - 材料測試系統系列

模組式電化學材料測試系統

簡介

ModuLab XM Series|ModuLab XM MTS

  • ModuLab® XM MTS是Solartron最新一代專用於材料測試研究的系統，其設計兼具模組性與靈活性，適用於廣泛的各種應用。
  • ModuLab XM的特點包括：領先市場的阻抗分析、最寬廣可用的電壓及電流範圍、單一系統即可進行時域及阻抗分析。
  • ModuLab XM提供的測量技術包括：I-V(電壓掃描及電流測量 - 用於測試電子及介電材料的特性)、P-E(極化/電場 - 用於運行磁滯測試，以表現鐵電材料的特性)、高速脈衝(用於激活電子與介電材料中的電荷載體)、階梯平滑的類比斜波波形…等。

我要諮詢
  • ModuLab® XM MTS是Solartron最新一代專用於材料測試研究的系統，其設計兼具模組性與靈活性，適用於廣泛的各種應用。
  • ModuLab XM的特點包括：領先市場的阻抗分析、最寬廣可用的電壓及電流範圍、單一系統即可進行時域及阻抗分析。
  • ModuLab XM提供以下測量技術：
    • I-V(電壓掃描及電流測量 - 用於測試電子及介電材料的特性)。
    • P-E(極化/電場 - 用於運行磁滯測試，以表現鐵電材料的特性)。
    • 高速脈衝(用於激活電子與介電材料中的電荷載體)。
    • 階梯平滑的類比斜波波形。
    • 阻抗、導納、介電常數/電容、電模量。
    • C-V電容 - 電壓、Mott-Schottky曲線。
    • 自動排序的時域及阻抗/電容測量。
  • ModuLab XM MTS能將所有上述測量方法自動排序，以激活及分析電荷載體，而不必切換樣本連接。
  • 軟體也內建經由低溫恆溫器、熔爐及探棒台進行溫度控制的功能。
  • ModuLab XM是個模組式系統，可設定配置，以滿足下列的應用需求：
    • 介電材料：鐵電/壓電、微機電、奈米機電、多鐵性材料、聚合物、固態氧化物燃料電池、離子導體、固體電解質、量子點…等。
    • 電子材料：LED、LCD、OLED、微機電系統、有機太陽能電池、矽、染料敏化太陽能電池、有機場效應電晶體、鍺、砷化鎵、鈣鈦礦材料…等。

一般規格

控制模組

從屬模組

100V高電壓

毫微微安培計

2A增幅器

XM MAT 1MHz

XM MH

100

XM MFA

XM MBST 2A

機箱插槽

1個

1個

1個

2個

測量模式

2或4端

2或4端

2或4端

2或4端

樣本連接導線(1m長)

4 x BNC到BNC

MAT導線

三同軸到BNC

MAT導線

浮接

有

有

有

有

一般輸出(Gen)

XM MAT 1 MHz

XM MHV100

XM MFA

XM MBST 2A

最大的波形產生器取樣率

64MS/s內插/濾波

搭配MAT

N/A

搭配MAT

最大的電壓(開路負載) DC+峰值AC(受擺動速率限制影響)

±8V

 

100V

N/A

±8V(搭配MAT)

±20V(搭配MHV)

最大的電壓解析度

150μV (< 3 V) 
400μV (≥ 3 V)

2mV (< 37 V) 
5mV (≥ 37 V)

N/A

1.5mV

最大的輸出電流

±100mA

±100mA

N/A

±2A

電壓測量(VHi/VLo)

XM MAT 1MHz

XM MHV100

XM MFA

XM MBST 2A

最大的電壓

±8V

±100V

N/A

N/A

電壓範圍

8、3(V) 
300、30、3(mV)

100、37.5、3.75(V)

375、37.5(mV)

N/A

N/A

電流測量

XM MAT 1MHz

XM MHV100

XM MFA

XM MBST 2A

最大的電流

±100mA

N/A

±100 mA

±2 A

電流範圍

100mA,

30mA - 30nA@ decades

N/A

100mA,

30mA - 3pA@ decades

2A加MAT範圍

最大的解析度

1.5pA

N/A

0.15fA

1.5pA (MAT)

輔助的電壓輸入

XM MAT 1MHz

XM MHV100

XM MFA

XM MBST 2A

輔助的DC通道數

4個

N/A

N/A

N/A

電壓範圍

8V、3V - 3mV

N/A

N/A

N/A

最大的解析度

1μV

N/A

N/A

N/A
  • 詳細規格、配件、軟體及選購，歡迎洽詢。
  • Market leading impedance analysis, Widest voltage and current range available, Time domain and impedance analysis in a single system
  • The latest generation ModuLab® XM MTS system is designed with modularity and flexibility in mind to allow for a wide range of applications. Purpose built for materials test research the ModuLab XM provides:
    • I-V (voltage scans with current measurement - used to characterize electronic and dielectric materials)
    • P-E (polarization / electric field - used to run hysteresis tests to characterize ferroelectric materials) 
    • High-speed pulse (used to activate charge carriers in electronic and dielectric materials)
    • Staircase and smooth stepless analog ramp waveforms
    • Impedance, admittance, permittivity / capacitance, electrical modulus
    • C-V capacitance - voltage, Mott-Schottky
    • Automatic sequencing of time domain and impedance/capacitance measurements 
  • ModuLab XM MTS is able to auto-sequence all of the above techniques for charge carrier activation and analysis, without changing sample connections. Temperature control is also built into the software via cryostats, furnaces and probe stations.

The ModuLab XM is a modular system that can be configured for the following applications:

Dielectric Materials

Ferro/piezoelectrics | MEMs | NEMs| multiferroics | polymers |solid oxides SOFC | ionic conductors | solid electrolytes, quantum dots

Electronic Materials

LED | LCD | OLED | MEMs | OPV | Si | DSSC | OFET | Ge | GaAs | Perovskite materials

General

Control Module

Slave Modules

100 V High Voltage

Femto Ammeter

2 A Booster

XM MAT 1MHz

XM MHV100

XM MFA

XM MBST 2A

Chassis slots taken

Single

Single

Single

Double

Measurement mode

2 or 4 terminal

2 or 4 terminal

2 or 4 terminal

2 or 4 terminal

Sample connection cables (1 m length)

4 x BNC to BNC

MAT cables

Triax to BNC

MAT cables

Floating

Yes

Yes

Yes

Yes

General Output - (Gen)

XM MAT 1 MHz

XM MHV100

XM MFA

XM MBST 2A

Maximum waveform generator sample rate

64 MS/s
Interpolated/filtered

Uses MAT

N/A

Uses MAT

Maximum voltage (open circuit load) DC + peak AC
(subject to slew rate limit)

±8 V

±100 V

N/A

±8 V with MAT
±20 V with MHV

Maximum voltage resolution

150 μV (< 3 V) 
400 μV (≥ 3 V)

2 mV (< 37 V) 
5 mV (≥ 37 V)

N/A

1.5 mV

Maximum output current

±100 mA

±100 mA

N/A

±2 A

Voltage Measurement - (VHi/VLo)

XM MAT 1MHz

XM MHV100

XM MFA

XM MBST 2A

Maximum voltage

±8 V

±100 V

N/A

N / A

Voltage ranges

8, 3, (V) 
300, 30, 3 (mV)

100, 37.5, 3.75 (V) 
375 , 37.5 (mV)

N/A

N / A

Current measurement - (I)

XM MAT 1MHz

XM MHV100

XM MFA

XM MBST 2A

Maximum current

±100 mA

N / A

±100 mA

±2 A

Current ranges

100 mA, 30 mA to 
30 nA in decades

N / A

100 mA, 30 mA to 
3 pA in decades

2 A plus MAT 
ranges

Maximum resolution

1.5 pA

N / A

0.15 fA

1.5 pA (MAT)

Auxiliary voltage inputs

XM MAT 1MHz

XM MHV100

XM MFA

XM MBST 2A

Number of auxiliary DC channels

Four

N / A

N/A

N / A

Voltage ranges

8 V, 3 V to 3 mV

N / A

N/A

N / A

Maximum resolution

1 μV

N / A

N/A

N / A
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