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電化學材料測試系統
Solartron Analytical Materials Lab XM - Materials Test System

【Solartron Analytical】電化學阻抗分析儀 介電|絶緣|電子材料研究應用 - 材料測試系統系列

電化學材料測試系統

簡介

Apps-XM Series|Materials Lab XM

  • Materials Lab XM是Solartron專用於材料研究的測試系統,提供一個完全整合的參考級時域/AC測量平台,在不同的測量方法之間不必切換樣本的連接。
  • 時域測量包括I-V(電流電壓)特性及快速脈衝法;AC測試法包括:從單一正弦分析、多重正弦/快速傅利葉轉換(以得到更快速的低頻分析)到測試材料線性與崩潰的諧波及互相調變所需要的全部功能。
  • 特點包括:最高精度的DC(IV、快速脈衝)及EIS(C-V、阻抗、Mott-Schottky曲線)、可立即切換DC與EIS,不必改變樣本連接…等。

我要諮詢
  • Materials Lab XM是Solartron專用於材料研究的測試系統,提供一個完全整合的參考級時域/AC測量平台,在不同的測量方法之間,不必切換樣本的連接。
  • 時域測量包括I-V(電流電壓)特性及快速脈衝法;AC測試法包括:從單一正弦分析、多重正弦/快速傅利葉轉換(以得到更快速的低頻分析)到測試材料線性與崩潰的諧波及互相調變所需要的全部功能。
  • XM-studio MTS軟體平台提供電阻抗頻譜(EIS)、導納、介電常數與電容的測量以及整合的等效電路分析功能。
  • 時域及AC測試,可組合在測試序列中及立即切換,容許DC及脈衝波形激活電荷載體,並立即接著進行激活的載體的EIS分析,如此緊密連結的整合,只有使用Materials Lab XM才能辦到!
  • Materials Lab XM的特點:
    • 最高精度的DC(IV、快速脈衝)及EIS(C-V、阻抗、Mott-Schottky曲線)。
    • 可立即切換DC與EIS,不必改變樣本連接。
    • 低頻到10μHz,適用於材料裂解、陷阱能態及材料純度研究。
    • 多重AC測試法包括一正弦、諧波分析(非線性材料)、多重正弦(以達到更快速的低頻測試)。
  • Materials Lab XM提供的測量:
    • I-V(電壓掃描及電流測量 - 用於測試電子及介電材料的特性)。
    • P-E(極化/電場 - 用於運行磁滯測試,以表現鐵電材料的特性)。
    • 高速脈衝(用於激活電子與介電材料中的電荷載體)。
    • 階梯平滑的類比斜波波形。
    • 阻抗、導納、介電常數/電容、電模量。
    • C-V電容 - 電壓、Mott-Schottky曲線。
    • 自動排序的時域及阻抗/電容測量。
  • Apps-Xm系列機型應用:
    • EnergyLab XM:電池、燃料電池、超級電容。
    • EchemLab XM:腐蝕與塗層及物理電化學。
    • SolarLab XM:太陽能電池。
    • Materials Lab XM:介電、絶緣及電子材料。

時域分析儀

測量模式

2或4端

樣本連接導線

4 x BNC-BNC (1m)

阻抗測量頻寬

1MHz (透過頻率響應分析儀)

浮接測量

產生器

平滑掃描產生器

64Ms/s內插及濾波

最大的電壓(開路負載)
DC+peak AC(受擺動速率限值影響)

±8V

最大的電壓解析度

150μV (<3 V)
400μV (≥3 V)

最大的輸出電流

±100mA

輸出阻抗(標稱)

50Ω

施加的電壓誤差(開路負載)

±0.2%設定值
±800μV (<3 V)
/±2mV (≧3 V)

電壓掃描速率

1.6MV/s~1μV/s

建議的最大掃描速率
(使用1MS/s擷取速率)

25kV/s

最小的脈衝持續時間

1μs 

最大的擺動速率

>10V/μs 

電壓測量(VHi / VLo)

最大的電壓測量

±8V 

範圍

8V,3V~3mV@decades 

精度(rdg.% +範圍% +抵補)

0.1% + 0.05% + 100μV 

最大的時域取樣率

1MS/s 

最大的解析度

1μV 

電流測量(I)

最大的電流

±100mA

範圍

100mA,30mA~30nA@decades

精度(rdg.% +範圍% +抵補)

0.1% + 0.05% + 100pA

最大的時域取樣率

1MS/s

最大的解析度

1.5pA

輔助電壓輸入

輔助的DC通道數

4個

規格

同VHi/VLo

與VHi/VLo測量同步

  • 詳細規格、配件、軟體及選購,歡迎洽詢。
  • Materials Lab XM is an application specific XM (Xtreme Measurement) product that is primarily focused on materials research. The Materials Lab XM product provides a fully integrated reference grade time domain and AC measurement platform. No need to switch sample connections between techniques.
  • Time domain measurements include I-V (current voltage) characterization as well as fast pulse techniques. AC testing techniques include everything from single-sine analysis, to multisine / Fast Fourier Transform for faster low frequency analysis, to harmonics and intermodulation for testing linearity and breakdown of materials.
  • Measurements of electrical impedance spectroscopy (EIS), admittance, permittivity and capacitance are all provided from the XM-studio MTS software platform, together with integrated equivalent circuit analysis functionality.
  • Time domain and AC tests can be combined in test sequences and instantly switched, allowing DC and pulse waveforms to activate charge carriers, followed immediately by EIS analysis of the activated carriers. This closely linked integration is only with the Materials Lab XM.
  • Features:
    • Highest accuracy DC (IV, fast pulse) and EIS (C-V, impedance,Mott-Schottky)
    • Instant switching between DC and EIS - without changing sample connections
    • Low frequency to 10 μHz for degradation, trap state and material purity studies
    • Multiple AC techniques include single sine, harmonic analysis (non-linear materials), multisine for faster low frequency tests
  • Measurements include:
    • I-V (voltage scans with current measurement - used to characterize electronic and dielectric materials)
    • P-E (polarization / electric field - used to run hysteresis tests to characterize ferroelectric materials)
    • High-speed pulse (used to activate charge carriers in electronic and dielectric materials)
    • Staircase and smooth stepless analog ramp waveforms
    • Impedance, admittance, permittivity / capacitance, electrical modulus
    • C-V capacitance - voltage, Mott-Schottky
    • Automatic sequencing of time domain and impedance/capacitance measurements

Time Domain Analyzer

Measurement Mode

2, or 4 terminal

Sample connection cables

4 x BNC-BNC (1m)

Impedance measurement bandwidth

1 MHz (via FRA)

Floating

Yes

Generator (Gen)

Smooth scan generator

64 Ms/s interpolated and filtered

Maximum Voltage (open-circuit load)
DC + peak AC (subject to slew rate limit)

±8 V

Maximum voltage resolution

150 μV (<3 V)
400 μV (≥3 V)

Maximum output current

±100 mA

Output impedance (nominal)

50 Ω

Applied voltage error (open-circuit load)

±0.2% setting
±800 μV (<3 V)
/±2 mV (≥3 V)

Voltage scan rate

1.6 MV/s to 1 μV/s

Recommended maximum scan rate
(using 1 MS/s acquisition rate)

25 kV/s

Minimum pulse duration

1 μs 

Maximum slew rate 

>10 V/μs 

Voltage Measurement (VHi / VLo)

Maximum Voltage Measurement

±8 V 

Ranges 

8 V,
3 V to 3 mV in decades 

Accuracy (reading % + range % + offset) 

0.1% + 0.05% + 100 μV 

Maximum time domain sample rate 

1 MS/s 

Maximum resolution 

1 μV 

Current Measurement (I)

Maximum current

±100 mA

Ranges

100 mA,
30mA to 30 nA in decades

Accuracy (reading % + range % + offset)

0.1% + 0.05% + 100 pA

Maximum time domain sample rate

1 MS/s

Maximum resolution

1.5 pA

Auxiliary Voltage Inputs

Number of auxiliary DC channels

Four

Specification

Same as VHi/VLo

Sychronized to VHi/VLo measurement

Yes

  • Please feel free to contact for detailed specifications, accessories, software and options.