電化學掃描系統 / PAR Electrochemical Scanning System

VersaSCAN™|VS-SECM|VS-STYLUS SECM|VS-SVET|VS-LEIS|VS-SKP|VS-SDC|VS-OSP

• PAR VersaSCAN是一款單一可擴充的測試平台，能提供電化學及材料測量的空間解析度。
• 將VersaSCAN整合一高解析度長量程的定位系統，搭配使用不同的輔助配件，便能執行多種不同的掃瞄式探棒實驗：掃瞄式電化學顯微鏡(SECM)、掃瞄式振動電極技術(SVET)、局部電化學阻抗頻譜(LEIS)、掃瞄式Kelvin探棒(SKP)、掃瞄式液滴電池(SDC)、非接觸式光學表面輪廓(OSP)、VS Stylus恆距離模式掃描式電子顯微鏡。
• 其它特點包括：防振動的光學底座、設備之間可透過乙太網路連接…等。