超高性能矽漂移探測器 / FAST SDD® Ultra High Performance Silicon Drift Detector
FAST SDD
這是真正的尖端技術！
Amptek 最近在內部引入了矽晶片製造工藝並改進了此工藝。 他們生產出的探測器具有更低的雜訊、更低的洩漏電流、更好的電荷收集能力，並且探測器之間的一致性更好。 這使它成為目前性能最佳且真正尖端的矽漂移探測器。
用於 XRF/EDS 的 FastSDD X 射線探測器 / Patented C-Series Low Energy X-Ray Windows
“C-Series” X-ray windows
Amptek 專利「C 系列」X 射線視窗通過採用氮化矽（Si3N4）和鋁塗層，將矽漂移探測器（SDD）的低能量響應擴展到了硼（B）; 它們只被用在我們的FastSDD®上。
Amptek 在推出第一款熱電致冷探測器的同時也推出了一種液氮的替代物。 現在，通過專利“C 系列”， Amptek為常規 XRF 分析提供了一種替代鈹（Be）視窗的產品，與軟 X 射線分析的聚合物視窗相比，它具有更高的性能。
FAST SDD® 和 C2 視窗的 EDS（SEM）應用 / EDS (SEM) Applications FAST SDD® and C2 Window
DS (SEM) Applications FAST SDD® and C2 Window
Amptek 很自豪地為掃描電子顯微鏡（SEMs）中的能量散射X射線譜（EDS）推出了一款改進的矽漂移探測器（SDD）。 使用Amptek專有的專利“C 系列”氮化矽（Si3N4）X 射線視窗，Amptek FAST SDD的低能量回應可擴展到鈹（Be）。 具有高固有效率的FAST SDD是EDS的理想選擇，EDS也被稱為能量散射X射線譜測量（EDX 或 XEDS）和能量散射X射線分析（EDXA）或 能量散射X射線微量分析（EDXMA）。
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