FAST SDD
這是真正的尖端技術!
Amptek 最近在內部引入了矽晶片製造工藝並改進了此工藝。 他們生產出的探測器具有更低的雜訊、更低的洩漏電流、更好的電荷收集能力,並且探測器之間的一致性更好。 這使它成為目前性能最佳且真正尖端的矽漂移探測器。
“C-Series” X-ray windows
Amptek 專利「C 系列」X 射線視窗通過採用氮化矽(Si3N4)和鋁塗層,將矽漂移探測器(SDD)的低能量響應擴展到了硼(B); 它們只被用在我們的FastSDD®上。
Amptek 在推出第一款熱電致冷探測器的同時也推出了一種液氮的替代物。 現在,通過專利“C 系列”, Amptek為常規 XRF 分析提供了一種替代鈹(Be)視窗的產品,與軟 X 射線分析的聚合物視窗相比,它具有更高的性能。
DS (SEM) Applications FAST SDD® and C2 Window
Amptek 很自豪地為掃描電子顯微鏡(SEMs)中的能量散射X射線譜(EDS)推出了一款改進的矽漂移探測器(SDD)。 使用Amptek專有的專利“C 系列”氮化矽(Si3N4)X 射線視窗,Amptek FAST SDD的低能量回應可擴展到鈹(Be)。 具有高固有效率的FAST SDD是EDS的理想選擇,EDS也被稱為能量散射X射線譜測量(EDX 或 XEDS)和能量散射X射線分析(EDXA)或 能量散射X射線微量分析(EDXMA)。
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