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Customized Photocurrent Mapping of Solar Cells and Modules

【Automatic Research】表徵樣品測量/塗布機 表徵樣品測量設備

LBIC 設定

簡介

LBIC

  • 鐳射選擇
    • 標準:445 nm 波長,10mW 功率
    • 405 nm、532 nm等
  • 鐳射檢查光束圓度
  • 樣品架:
    • 用途廣泛,適用於各種樣品佈局
    • 用於自動觸點切換的多路轉接器選項
    • 用於低信號測量的電流放大器
  • 易於使用且具有數據導出功能的控制軟體 

我要諮詢
  • 鐳射選擇
    • 標準:445 nm 波長,10mW 功率
    • 405 nm、532 nm等
  • 鐳射檢查光束圓度
  • 樣品架:
    • 用途廣泛,適用於各種樣品佈局
    • 用於自動觸點切換的多路轉接器選項
    • 用於低信號測量的電流放大器
  • 易於使用且具有數據導出功能的控制軟體 

應用和功能

  • 具有最高分辨率且快速、可靠的光電流映射
  • 缺陷檢測和視覺化——分流、塗層缺陷、定位非活動區域
  • 研究降解效應
  • 質量控制工具
  • 鐳射束掃描樣品並測量激發的光電流
  • 提供不同(多種)鐳射波長
  • 高達 300×300 mm² 的掃描區域
  • 各種太陽能技術的映射:鈣鈦礦、有機、矽、CIGS、CdTe
  • Laser choices
    • Standard: 445 nm wavelength, 10mW power
    • 405 nm, 532 nm, and many more
  • Laser checked for beam circularity
  • Sample holder:
    • Versatile and adaptable to a large range of sample layouts
    • Multiplexer option for automatic contact switching
    • Current amplifier for low signal measurements
  • Easy to use control software with data export

Applications and functions

  • Fast and reliable photocurrent mapping with highest resolution
  • Defect detection and visualization – shunts, coating defects, localize inactive regions
  • Study degradation effects
  • Quality control tool
  • A laser beam scans the sample and the excited photocurrent is measured
  • Different (multiple) laser wavelengths available
  • Up to  300×300 mm² scanning area
  • Mapping of all kinds of solar technologies:   Perovskite, Organic, Silicon, CIGS, CdTe,