最新消息∣【Zurich】鎖相放大器在掃瞄樣品表面形貌SPM應用
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技術應用 | Application Notes

2021/0607

【Zurich】鎖相放大器在掃瞄樣品表面形貌SPM應用

Zurich Instruments 專注於 SPM 的應用挑戰,特別是與新操作模式、新傳感器或快速實時數據採集和反饋迴路相關的挑戰。 Zurich Instruments 的儀器覆蓋從 DC 到 600 MHz 的頻率,幫助 SPM 專家執行時域和頻域數據分析,以捕獲和控制複雜的尖端-樣品相互作用。

Zurich Instruments 通過與 Scienta Omicron 的 UHV-SPM 系統和布魯克 Anasys Instruments 的原子力顯微鏡紅外光譜 (AFM-IR) 提供集成解決方案,為整個 SPM 應用提供服務,並為大多數第三方提供簡單的模擬和 DIO 接口。方顯微鏡通過各自的信號訪問模塊 (SAM)。鎖定放大器和 PID 迴路內部生成的所有數據都可以通過數據採集 (DAQ) 模塊以多幅圖像或觸發數據流的形式採集。所有儀器平台都提供四個模擬輔助輸出,可快速方便地連接到顯微鏡。

使用Zurich Instrument 鎖相放大器提升您的AFM

在我們最新的影片中,了解如何將 Zurich Instruments 鎖相放大器與商用原子力顯微鏡 (AFM) 連接起來。 Zurich Instrument Kıvanç Esat博士向您展示如何直觀的操作和 整合LabOne® 工具啟用高級成像方法,包括單程掃描開爾文探針力顯微鏡 (KPFM) 和雙頻共振跟踪 (DFRT)。 LabOne 軟件開闢了多種可能性,例如研究時域和頻域中多個頻率下的針尖-樣品相互作用。 Kıvanç 還研究如何捕獲數據和記錄 AFM 圖像。