超快SDD 70mm2探測器 / FAST SDD-70mm2
FAST SDD-70mm2
- 工作面積/厚度：70mm/ 5002um
- 解析度：123 eV
- 計數率：2M cps
- 訊號-背景比：26,000:1
- 窗口： Be (12.5 um) or C2 (Si3N4)
超快SDD 25mm2探測器 / FAST SDD-25mm2
FAST SDD-25mm2
- 工作面積/厚度：25mm2/ 500um
- 解析度：122 eV
- 計數率：1M cps
- 訊號-背景比：26,000:1
- 窗口： Be (12.5 um) or C2 (Si3N4)
SDD 25mm2探測器 / SDD-25mm2
SDD-25mm2
- 工作面積/厚度：25mm2/ 500um
- 解析度：125 eV
- 計數率：200k cps
- 訊號-背景比：20,000:1
- 窗口： Be
- X光螢光訊號 （XRF）
- RoHS/WEEE 檢測
- 貴金屬、合金、輕元素分析
- EDS
- Mössbauer Spectrometers
- 粒子誘發的X射線（PIXE）
- 波長色散XRF
Si-PIN 探測器 / Si-PIN detector
Si-PIN detector
- 工作面積/厚度：6, 13, 25mm2/ 500um
- 解析度：139, 180, 190 eV
- 計數率：30k cps
- 訊號-背景比：19,000:1, 4100:1, 2000:1
- 窗口： Be
