簡介
CX-200Plus
CX-200plus 是一款全尺寸落地式掃描電子顯微鏡 (SEM)，無論是新用戶還是有經驗的用戶，都會發現它適用於許多類型的嚴格研究和品質控制要求。 CX-200plus 的標準配備包括 SE 和 BSE 成像探測器，以及用於輕鬆調整平台傾斜和高度的內腔視角攝影機。 CX-200plus 具有高解析度成像能力，而且價格極具吸引力。 在對 CX-200plus 進行評估之後，您就可以輕鬆找到最具成本效益的解決方案了。
我要諮詢CX-200plus 是一款全尺寸落地式掃描電子顯微鏡 (SEM)，無論是新用戶還是有經驗的用戶，都會發現它適用於許多類型的嚴格研究和品質控制要求。 CX-200plus 的標準配備包括 SE 和 BSE 成像探測器，以及用於輕鬆調整平台傾斜和高度的內腔視角攝影機。 CX-200plus 具有高解析度成像能力，而且價格極具吸引力。 在對 CX-200plus 進行評估之後，您就可以輕鬆找到最具成本效益的解決方案了。
應用
| 放大倍率 | 15-300,000X |
| 空間解析度 | 30kV 時 <3nm |
| 真空模式 | HV |
| 加速電壓 | 1 – 30 kV（可依 1 kV比例調整） |
| 電子源 | 預定心鎢絲燈芯 |
| 探測器 | SED(DP) BSED(DP) SED(DP) BSED(DP) |
| 樣品尺寸 | 直徑 160 mm |
| X,Y/ Z/ T 橫移 R | 0-60 mm / 5-60mm/ -20 - 90º 360º |
| 自動控制 | 對焦、燈絲、亮度/對比 |
| 數據輸出格式 | jpg, tiff, BMP |
| 尺寸 | 640 x 682 x 1430 mm |
| 重量 | 230 kg |
| 可選購 | STEM CoolStage Panorama 2.0 EDS (Oxford, Bruker) |
a full-size floor model Scanning Electron Microscope (SEM) that both new and experienced users will find suitable for many type of demanding research and quality control requirements. The standard supplied configuration of the CX-200plus includes both SE and BSE imaging detectors as well as an internal chamber view camera for easy stage tilt and height adjustments. The CX-200plus offers high resolution imaging capabilities at a very attractive price. After evaluating the CX-200plus, your search for the most cost effective solution will be an easy decision.
application
| Magnification | 15-300,000X |
| Spatial Resoultion | <3nm at 30kV |
| Vacuum Mode | HV |
| Accleration Voltage | 1 – 30 kV (adjustable in 1kV scale) |
| Electron Source | Pre-Centered Tungsten Filament |
| Detector | SED(DP) BSED(DP) SED(DP) BSED(DP) |
| Sample Size | 直徑 160 mm |
| X,Y/ Z/ T Traverse R | 0-60 mm / 5-60mm/ -20 - 90º 360º |
| Automation | Focus, Filament, Brightness/Contrast |
| Data Output Format | jpg, tiff, BMP |
| Dimensions | 640 x 682 x 1430 mm |
| Weight | 230 kg |
| OPTIONS | STEM CoolStage Panorama 2.0 EDS (Oxford, Bruker) |