簡介
CT-COMPACT
- 工業級X射線電腦斷層掃描（CT）
- 3D的立體影像結果
- 非破壞性測試（NDT）—2D和3D
- 獨立於材料的品質控制
- 缺陷識別（空隙、裂縫...）。
- 非接觸式檢驗
- 即時CT重建
- 環狀偽影的抑制
- 操作容易
- 輻射安全優於1µSv/h
- 台式系統
CT-COMPACT
高解析X射線電腦斷層掃描（CT）系統是一種能夠檢測任何物體並在檢測中保持物體不被損壞的一種檢測方式。 現已成為工業、材料、環境、生命科學等領域中常見的檢測方法之一，適用於對樣品進行無損檢測、故障分析、過程控制等。
ProCon X-Ray GmbH作為該領域的專業製造商，在µm 和nm 級的3D故障分析和3D量測等，已擁有10多年的檢測經驗。 ProCon X-Ray所推出的3D和4D CT（帶3D運動）分析系統更能夠提供高品質的影像，說明您在品質控制需求中提供高解析和差異化的功能。
CT-COMPACT是一款緊湊的台式高解析X射線電腦斷層掃描（CT）系統，滿足各種高級應用需求。除塑膠和陶瓷外，ProCon X-Ray GmbH的CT-COMPACT可計算測試吸收材料，如金屬和更大的測試件，並具有極佳的視覺化品質。
CT-COMPACT可根據客戶的具體要求設計腔體空間大小，並配備高達160 kV的微聚焦X光管。 為了提高最佳的對比度，可以改變檢測器距離。 對於高放大倍率，可以使用不同的平板X光檢測器。 水平方向的X射線束有助於避免掃描時的重力影響。
CT-COMPACT非常適用於非破壞性測試、材料分析和尺寸測量，尤其適用於內部結構、底切和自由曲面的檢測。
適用於廣泛的行業：石油和天然氣、汽車、電源、牙科、航太、大學研究等。
特點
- 工業級X射線電腦斷層掃描（CT）
- 3D的立體影像結果
- 非破壞性測試（NDT）－2D和3D
- 獨立於材料的品質控制
- 缺陷識別（空隙、裂縫…）。
- 非接觸式檢驗
- 即時CT重建
- 環狀偽影的抑制
- 操作容易
- 輻射安全優於1µSv/h
- 台式系統
| X-ray Source | 0 - 130 kV up to 39 W 5 μm min. Focal Spot |
| Other sources possible on request up to 180 kV | |
| Detector | 3 Megapixel 75 μm pixel size 1944 x 1536 pixel |
| Many other detectors availibe on request | |
| Spatial Resolution | < 3 μm |
| Voxel size | < 3 μm |
| Max. Object size | Ø 200 x H 200 mm |
| Max. Scan size | Ø 120 x H 100 mm |
| Larger working space availible on request | |
| System Dimensions (W x D x H) |
1100 x 540 x 800 mm |
| System weight | 500 kg (including table) |
| Cabinet weight | < 400 kg |
| Power supply | 100 - 240 VAC, 50/60 Hz |
CT-COMPACT
CT-COMPACT, the most versatile desktop system for 3D-CT requirements. “we enable the CT-COMPACT, performing as the most flexible micro CT system on a bench” Joachim Gudat, the founder and CEO of ProCon X‑Ray GmbH, says, during the companies 10th anniversary
The space-saving CT-COMPACT can be equipped with micro-focus X‑ray tubes capable of operation up to 160 kV, depending on specific customer requirements. The focus-detector distance can be adjusted to optimize the contrast.
A range of flat panel detectors is available, enabling the highest magnification. Due to the horizontally oriented X‑ray beam, the CT scan remains uninfluenced by gravity.
The CT-COMPACT system is ideal for nondestructive testing, materials analysis, metrology and, rapid prototyping. Due to our cabinet temperature concept the CT-COMPACT holds the certificate of proven measurement uncertainty, by Q‑DAS.
Features
- Industrial X‑ray Computed Tomography (CT)
- 3D volume CT
- Non-destructive testing (NDT) – 2D and 3D
- Quality control independent of material
- Defect recognition (voids, cracks, …)
- Contactless metrology
- CT reconstruction in real-time
- Ring artefact suppression
- Easy operation
- Radiation safety better than 1 µSv/h
- Desktop system
| X-ray Source | 0 - 130 kV up to 39 W 5 μm min. Focal Spot |
| Other sources possible on request up to 180 kV | |
| Detector | 3 Megapixel 75 μm pixel size 1944 x 1536 pixel |
| Many other detectors availibe on request | |
| Spatial Resolution | < 3 μm |
| Voxel size | < 3 μm |
| Max. Object size | Ø 200 x H 200 mm |
| Max. Scan size | Ø 120 x H 100 mm |
| Larger working space availible on request | |
| System Dimensions (W x D x H) |
1100 x 540 x 800 mm |
| System weight | 500 kg (including table) |
| Cabinet weight | < 400 kg |
| Power supply | 100 - 240 VAC, 50/60 Hz |