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台式掃描電子顯微鏡

簡介

COXEM EM-30N / EM-30AXN

  • 5 nm的高解析度可獲得最佳影像
  • 雙顯示模式:使用雙顯示模式一目了然地檢查SE和BSE影像。
  • 信號混合模式:將SE和BSE影像組合在一起可立即檢查形狀和成分分佈。

我要諮詢
  • 5 nm的高解析度可獲得最佳影像

  • 雙顯示模式:使用雙顯示模式一目了然地檢查SE和BSE影像。
  • 信號混合模式:將SE和BSE影像組合在一起可立即檢查形狀和成分分佈。

  • 使用NaviCAM和MiniMap功能,用戶不僅可以從所需的固定器位置獲得SEM圖像,而且可以準確地檢查樣品的位置。

  • 冷卻台(Coolstage)功能 ( 選購 )  : 針對含水樣品,冷卻台可降低樣品溫度以凍結內部水分,從而防止抽真空時對精密的微結構造成破壞作用。

  • 可以透過STEM檢測器(選購),使EM-30N能夠對樣品執行明場或暗場的TEM分析。一次可安裝4個樣品並使用EDS。
  • EM-30AXN是SEM-EDS多合一系統,並且內置EDS,可以同時觀察樣品表面,並對樣品中的元素進行定性和定量分析。
  • 低真空(LV)模式: 可以很容易地獲得非導電樣品或絕緣材料的圖像,而無需進行任何特殊的預處理。

 

 EM-30N

 EM-30AXN

 Magnification

 20-150,000X 

 Spatial Resoultion

 <5nm

 Vacuum Mode

 HV/LV (Standard)

 Accleration Voltage

 1 - 30kV (adjustable in 1kV scale)

 Electron Source

 Pre-Centered Tungsten Filament

 Detector

 SED(DP), BSED(DP)

 SED(DP), BSED(DP), EDS

 Sample Size

 70mm (W) x 45mm (H)

 X-Y/T Traverse

 35x35mm / 0 - 45º

 Automation

 Focus, Filament, Brightness/Contrast

 Data Output Format

 jpg, tiff, BMP

 Dimensions

 400 x 600 x 550 mm

 Weight

 85 kgs

 95 kgs

 Options

STEM
CoolStage
Panorama 2.0
30mm Active Size Compact Type EDS (Particle Analysis)
30mm Active Size Compact Type EDS (MPO included)

 

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